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SID4 HR

SID4 HR은 가장 까다로운 파면 측정 응용 분야에 초고 위상 샘플링(416 x 360) 및 높은 동적 범위(500μm PV)를 제공합니다. 큰 조리개와 극도의 파면 감도로 인해 릴레이 광학 장치 없이 큰 오목 빔을 직접 측정하는 데 매우 적합합니다.

제품문의
  • Features
    • Very high resolution (416 x 360 phase pixels)
    • Large analysis pupil: 9.98 x 8.64 mm²
    • Direct measurement of high NA beam up to 0.8
  • Specifications
    Wavelength range400 - 1100 nm
    Aperture dimension9.98 x 8.64 mm²
    Spatial resolution24 µm
    Phase and Intensity sampling416 x 360
    Resolution (Phase)<2 nm RMS
    Accuracy20 nm RMS
    Acquisition rate10 fps
    Real-time processing frequency*2 fps (full resolution)
    InterfaceGiga Ethernet
    Dimensions (WxHxL)80 x 77.5 x 86.4 mm³
    Weight~600 g


    *with SID4 Software
  • Options / Accessories


  • Applications
    • Laser testing, adaptive optics, and plasma diagnostics 
    • Optics metrology and optical system alignment 
    • Material inspection
  • Product Literature
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