본문바로가기

All

SID4 eSWIR

SID4 eSWIR 파면 센서는 Phasics의 특허 기술과 T2SL 검출기를 통합하며 0.9에서 2.35μm까지 확장된 SWIR 범위를 커버하는 유일한 고분해능 파면 센서입니다. SID4 eSWIR은 군사 및 감시 장치의 광통신, 검사 장비 또는 야간 투시경에 사용되는 SWIR 소스 및 렌즈를 테스트하기 위한 혁신적인 솔루션입니다.

제품문의
  • Features
    • Extended spectral range from 0.9 to 2.35 µm
    • High resolution – 80 x 64 phase pixels
    • Compact and self-referenced for easy setup
  • Specifications
    Wavelength range0.9 - 2.35 µm
    Aperture dimension9.60 x 7.68 mm²
    Spatial resolution120 μm
    Phase and Intensity sampling80 x 64
    Resolution (Phase)< 6 nm RMS*
    Accuracy (Absolute)< 40 nm RMS*
    Real-time processing frequency10 Hz (full resolution)
    InterfaceUSB 2.0
    Dimensions (WxHxL)90 x 115 x 120 mm³
    Weight~1.8 kg


    * for coherent sources
  • Options / Accessories


  • Applications
    • Laser testing, adaptive optics, and plasma diagnostics 
    • Optics metrology and optical system alignment
  • Product Literature
목록